卡爾蔡司顯微鏡申請電子束顯微鏡專利,提高電子檢測效率

國家知識產(chǎn)權局信息顯示,卡爾蔡司顯微鏡有限責任公司申請一項名為“電子束顯微鏡”的專利,公開號CN121641790A,申請日期為2025年9月電子。

專利摘要顯示,提供了電子束顯微鏡,其包括電子束源(5)、物鏡(25)和電子檢測器(37)電子。電子檢測器(37)包括閃爍體布置(76),該閃爍體布置被布置在電子束源(5)與物體位置(35)之間,以使得在物體(21)處生成的電子(81)入射到閃爍體本體(77)上,該閃爍體本體由閃爍體材料形成,該閃爍體材料由入射電子(81)生成光(83)。電子檢測器(37)還包括光檢測器(91)和光學元件(87),該光檢測器用于檢測由閃爍體本體(77)生成的光(83),該光學元件包括光學有效表面(85),該光學有效表面被布置在閃爍體布置(76)與物體位置(35)之間,以及被布置在閃爍體本體(77)與光檢測器(91)之間,處于由光檢測器(91)檢測到的光(83)的束路徑上。

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